Статистический анализ испытаний узлов электронных компонентов, вторичных приборов и датчиков температур на произвлдстве

Кудашева, Г.А.

URI: http://dspace.susu.ru/handle/0001.74/17049

Дата: 2017

Показать полную информацию

Файлы в этом документе

Имя: 2017_273_kudashev ...

Размер: 2.592Mb

Формат: PDF

Данный элемент включен в следующие коллекции

Выпускные квалификационные работы

Поиск в DSpace

Расширенный поиск

Просмотр

Весь DSpace
Эта коллекция

Моя учетная запись