Репозиторий Dspace

Расчет и оптимизация параметров измерительных узлов автоматизированных систем контроля

Показать сокращенную информацию

dc.contributor.author Гуревич, Е. И.
dc.contributor.author Вилесов, А. В.
dc.contributor.author Gurevich, E. I.
dc.contributor.author Vilesov, A. V.
dc.date.accessioned 2013-09-06T06:10:13Z
dc.date.available 2013-09-06T06:10:13Z
dc.date.issued 2012
dc.identifier.citation Гуревич, Е. И. Расчет и оптимизация параметров измерительных узлов автоматизированных систем контроля / Е. И. Гуревич, А. В. Вилесов // Вестник ЮУрГУ.- 2012.- Вып. 15. № 3 (262).- С. 27-33.- Библиогр.: с. 33 (5 назв.) ru_RU
dc.identifier.issn 1991-976X
dc.identifier.uri http://dspace.susu.ac.ru/handle/0001.74/2355
dc.description Гуревич Ефим Израильевич – канд. техн. наук, начальник сектора ФГУП «ГосНИИ Приборостроения»,г. Москва; corund@col.ru Вилесов Андрей Владимирович – инженер-электроник ФГУП «ГосНИИ Приборостроения», г. Москва;corund@col.ru. Gurevich Efim Izrailevich – PhD, head of sector of FGUP “GosNII Priborostroeniya”, Moscow; corund@col.ru Vilesov Andrey Vladimirovich – electronics engineer of FGUP “GosNII Priborostroeniya”, Moscow; corund@col.ru ru_RU
dc.description.abstract Рассматриваются методы контроля и схемотехнические решения измерительных устройств в автоматизированных системах контроля различных объектов, для которых характерны измерения в области сверхмалых токов и напряжений. Предлагаются графоаналитические методы поиска оптимальных значений параметров измерительных узлов на основе уравнений чувствительности с возможностью обработки результатов измерений на микроконтроллере, позволяющие повысить точность и параметрическую устойчивость измерителей. Приводится сравнение полученных результатов с экспериментальными данными. The article discusses the methods of monitoring and measuring, and circuit solutions for automated control systems of various objects, which are characterized by measurement of extremely small currents and voltages. Graphic-analytical methods for optimal parameters searching for measuring units on the basis of the equations of sensitivity with the possibility of processing the results of measurements on the microcontroller are discussed, allowing more accurate and parametric stability of the probes. A comparison of the results with experimental data is presented. ru_RU
dc.language.iso other ru_RU
dc.publisher Издательский центр ЮУрГУ ru_RU
dc.relation.ispartof Вестник ЮУрГУ. Серия Компьютерные технологии, управление, радиоэлектроника ru
dc.relation.ispartof Vestnik Yuzhno-Ural'skogo Gosudarstvennogo Universiteta. Seriya Kompjuternye tekhnologii, upravlenie, radioelektronika en
dc.relation.ispartof Bulletin of SUSU en
dc.relation.ispartofseries Компьютерные технологии, управление, радиоэлектроника;Вып. 15
dc.subject оптимизация параметров ru_RU
dc.subject измерительный узел ru_RU
dc.subject микроконтроллер ru_RU
dc.subject parameter optimization ru_RU
dc.subject measuring unit ru_RU
dc.subject microcontroller ru_RU
dc.subject УДК 681.2.08 ru_RU
dc.title Расчет и оптимизация параметров измерительных узлов автоматизированных систем контроля ru_RU
dc.title.alternative Calculation and optimization of the parameters of measurement units of automated control systems ru_RU
dc.type Article ru_RU


Файлы в этом документе

Данный элемент включен в следующие коллекции

Показать сокращенную информацию

Поиск в DSpace


Расширенный поиск

Просмотр

Моя учетная запись