Исследование приповерхностного дефектного слоя на деталях, выращенных DMD-методом

Abstract

В работе исследован приповерхностный слой деталей, выращенных DMD-методом, с целью выявления дефектного слоя, необходимого для проектирования технологического процесса последующей обработки резанием таких деталей.