Abstract:
Предлагается тестовая последовательность обнаружения и разделения неисправных состояний подсистемы «магистраль-внешняя память» вычислительного ядра БЦВМ. Сжато излагаются также некоторые новые подходы и принципы, использованные при построении алгоритма диагноза.
Test sequence for the detection and separation of faulty states of the subsystem «main
transmission line-external memory» for on-board computer processing core has been proposed. Briefly presented some new approaches and principles used in constructing the diagnostic algorithm.
Descrizione:
Гаврилин Борис Николаевич - д-р техн. наук, начальник ФГУП «ГосНИИ Приборостроения», г. Москва; corund@col.ru. Gavrilin Boris Nikolaevich - PhD, head of FGUP «GosNII Priborostroeniya», Moscow; corund@col.ru. Выборное Петр Владимирович - инженер-электроник ФГУП «ГосНИИ Приборостроения», г. Москва;
corund@col.ru. Vybornov Pyotr Vladimirovich - electronics engineer of FGUP «GosNII Priborostroeniya», Moscow; corund@col.ru
