Статистический анализ испытаний узлов электронных компонентов, вторичных приборов и датчиков температур на произвлдстве

Кудашева, Г.А.

dc.contributor.advisor	Колмакова, Н.С.	ru
dc.contributor.author	Кудашева, Г.А.	ru
dc.date.accessioned	2018-03-22T09:58:02Z
dc.date.available	2018-03-22T09:58:02Z
dc.date.issued	2017
dc.identifier.uri	http://dspace.susu.ru/handle/0001.74/17049
dc.publisher	Южно-Уральский государственный университет	ru
dc.subject	Физическая электроника	ru
dc.title	Статистический анализ испытаний узлов электронных компонентов, вторичных приборов и датчиков температур на произвлдстве	ru
dc.type	ВКР	en
dc.thesis.level	Магистр	ru
dc.thesis.speciality	11.04.04 - Электроника и наноэлектроника	ru
dc.publisher.department	Институт Естественных и точных наук	ru
dc.publisher.subdepartment	Кафедра физической электроники	ru